高溫高濕高壓老化箱(HAST)是半導體、汽車電子、航空航天及消費電子等領域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-180L | 瀏覽量:83 |
| 更新時間:2026-01-06 | 是否能訂做:是 |
核心技術參數
溫度范圍:+105℃ ~ +155℃(可選)
常用測試溫度:110℃, 130℃, 145℃
濕度范圍:50% ~ 95% RH(非飽和,可調)
*部分型號支持65%-100%RH,可設定飽和模式*
壓力范圍:0.02 MPa ~ 0.6 MPa(表壓)
*約合0.2至6kg/cm2,滿足不同標準要求*
控制精度:溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH
確保測試條件的嚴苛穩定性和出色復現性
控制模式:支持干濕球控制、非飽和蒸汽、飽和蒸汽三種工作模式,適應多樣化的測試方案需求。
遵循的核心標準
我們的設備設計與制造嚴格遵循國際及國內主流可靠性測試標準,確保您的測試數據在地球范圍內獲得廣泛認可:
國際電工委員會 (IEC):
IEC 60068-2-66 (試驗Cx: 穩態濕熱)
IEC 60749 (半導體器件機械和氣候試驗方法)
固態技術協會 (JEDEC):
JESD22-A110 (高加速溫度和濕度應力測試 - HAST)
JESD22-A118 (無偏壓高加速溫度和濕度應力測試 - UHAST)
JESD22-A102 (高壓蒸煮試驗 - PCT)
國家標準 (GB):
GB/T 2423.40 (環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx: 穩態濕熱)
汽車電子領域 (AEC):
AEC-Q100 (基于集成電路應力測試的失效機理)
AEC-Q101 (分立半導體器件應力測試資質)
高溫高濕高壓老化箱(HAST)
圖片展示:



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