HAST高壓加速壽命試驗箱,HAST,即高度加速應力測試,是一種通過模擬嚴苛高溫、高濕及高壓環境,加速材料老化過程的試驗方法。試驗箱內部溫度可調節范圍達105℃至143℃,相對濕度60%至百%,壓力高可達0.2MPa表壓。這些參數可根據測試需求精細調控。
| 型號:HT-HAST-180L | 瀏覽量:84 |
| 更新時間:2026-01-06 | 是否能訂做:是 |
HAST,即高度加速應力測試,是一種通過模擬嚴苛高溫、高濕及高壓環境,加速材料老化過程的試驗方法。
試驗箱內部溫度可調節范圍達105℃至143℃,相對濕度60%至百%,壓力高可達0.2MPa表壓。這些參數可根據測試需求精細調控。
非飽和高壓環境是HAST的核心特點。與傳統的飽和蒸汽老化試驗不同,非飽和環境能更有效地模擬實際濕熱條件,避免因表面結露導致的局部過度老化。
試驗過程中,溫濕度均勻度可控制在≤±2℃、≤±5%RH的范圍內,確保所有樣品處于一致的老化環境中。
核心技術參數
溫度范圍:+105℃ ~ +155℃(可選)
常用測試溫度:110℃, 130℃, 145℃
濕度范圍:50% ~ 95% RH(非飽和,可調)
*部分型號支持65%-100%RH,可設定飽和模式*
壓力范圍:0.02 MPa ~ 0.6 MPa(表壓)
*約合0.2至6kg/cm2,滿足不同標準要求*
控制精度:溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH
確保測試條件的嚴苛穩定性和出色復現性
控制模式:支持干濕球控制、非飽和蒸汽、飽和蒸汽三種工作模式,適應多樣化的測試方案需求。
遵循的核心標準
我們的設備設計與制造嚴格遵循國際及國內主流可靠性測試標準,確保您的測試數據在地球范圍內獲得廣泛認可:
國際電工委員會 (IEC):
IEC 60068-2-66 (試驗Cx: 穩態濕熱)
IEC 60749 (半導體器件機械和氣候試驗方法)
固態技術協會 (JEDEC):
JESD22-A110 (高加速溫度和濕度應力測試 - HAST)
JESD22-A118 (無偏壓高加速溫度和濕度應力測試 - UHAST)
JESD22-A102 (高壓蒸煮試驗 - PCT)
國家標準 (GB):
GB/T 2423.40 (環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx: 穩態濕熱)
汽車電子領域 (AEC):
AEC-Q100 (基于集成電路應力測試的失效機理)
AEC-Q101 (分立半導體器件應力測試資質)
HAST高壓加速壽命試驗箱
精準的控制能力:采用非飽和蒸汽控制技術,實現對溫度、濕度、壓力的高精度獨立控制與實時監控,確保測試條件嚴格符合標準要求,測試結果具備很高的復現性與可比性。
高應力加速測試效率:在遠高于常規恒溫恒濕試驗(如85℃/85% RH)的應力條件下運行,能快速激發潛在缺陷,顯著縮短產品可靠性驗證周期,助力企業搶占市場先機。
安全與可靠性設計:配備多重安全防護(超壓、超溫、漏電、缺水等自動保護),關鍵部件采用耐腐蝕材料與強化結構,確保設備在長期高應力測試下的穩定運行與操作安全。
廣泛的行業標準兼容性:設備設計嚴格遵循半導體行業主流可靠性測試標準,確保測試數據在國際供應鏈及客戶群中獲得廣泛認可與信任。
靈活的多模式測試:支持非飽和(常用)、飽和及干濕球等多種控制模式,一機多用,可滿足從標準HAST到無偏壓HAST(UHAST)乃至高壓蒸煮(PCT)等不同測試協議的需求。
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